主要包括 谱峰识别 (全扫谱图的自动识峰、高分辨窄扫谱图的手动识峰)、分峰拟合 (单峰拟合、双峰拟合及非线性最小二乘法拟合) 、 背景去除 、 元素识别 、 峰强度和相对